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熱門關(guān)鍵詞： 測角儀，應(yīng)力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測設(shè)備，波片相位延遲，剪切
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PolSNAP®斯托克斯偏振計，可輕松集成到您的光學(xué)設(shè)置中，以便您測定光源或光學(xué)器件的偏振狀態(tài)，進行激光器的質(zhì)量控制，或確定光纖的保偏能力。這款臺式交鑰匙系統(tǒng)可生成全部四個斯托克斯參數(shù)，并以三種不同方式圖形化顯示。重復(fù)性低至 0.06%，精度在 5%(VIS) 和 7% (NIR)以內(nèi)。
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Hinds Instruments 光彈調(diào)制器 PEM200，是我們?yōu)楣鈴椥哉{(diào)制器全新設(shè)計的“一體化”控制器，其主要功能是精確控制光彈性調(diào)制器光學(xué)頭的峰值延遲量。
各向異性測量系統(tǒng)2-MGEM橢圓計是一個重大的突破，光學(xué)各向異性測量技術(shù)更快、更準(zhǔn)確、收集更多的數(shù)據(jù)。
光學(xué)測量